Residual Stress
Measurement by Diffraction and Interpretation
| Autor: | Cohen, Jerome B. Noyan, Ismail C. |
|---|---|
| ISBN: | 9781461395713 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 276 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer US |
| Veröffentlicht: | 01.07.2012 |
| Untertitel: | Measurement by Diffraction and Interpretation |
| Schlagworte: | Absorption Fitting Goniometer Hardware Industrie Information Kristallographie Monochromator Peak Profil |
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